Caractérisation du seuil de dommages dans les cristaux de saphir dope au titane avec des impulsions nanoseconde, picoseconde et femtoseconde - ENSTA Paris - École nationale supérieure de techniques avancées Paris Access content directly
Conference Papers Year : 2006

Caractérisation du seuil de dommages dans les cristaux de saphir dope au titane avec des impulsions nanoseconde, picoseconde et femtoseconde

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Dates and versions

hal-00084469 , version 1 (07-07-2006)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00084469 , version 1

Cite

F. Canova, J.P. Chambaret, G. Mourou, M. Sentis, O. Uteza, et al.. Caractérisation du seuil de dommages dans les cristaux de saphir dope au titane avec des impulsions nanoseconde, picoseconde et femtoseconde. UVX 2006 : 8ème Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV, et X. ; 6-9 Juin, 2006, Colleville-sur-Mer, France. ⟨hal-00084469⟩
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